;
关注bat365·(中国)官方网站-登录入口掌握最新行业动态与资讯
当前位置: 首页 > Bat365新闻 > 热点新闻

韩根全等 | 面向高性能计算的低温芯片技术:发展和挑战

发布日期:2025-01-19 访问量:

  研究简介过去60多年,集成电路技术的进步推动了电子信息领域的快速发展。随着工艺制程进入纳米阶段,通过微缩化技术进一步提升器件和电路的性能需要克服技术和成本方面的多重挑战。探寻新的器件、设计和架构技术是高性能计算领域解决当下瓶颈的必然路径。低温芯片技术,利用晶体管低温下电学性能的提升,可以进一步提高逻辑芯片的算力并降低动态和静态功耗。由于和现有集成电路技术兼容性较高,是低成本实现更高性能计算的理想技术路线之一。此外,随着量子计算技术的发展,可扩展的大规模量子芯片需要和极低温CMOS电路以及存储芯片实现片上集成,进而实现更高效的数据处理。本文面向高性能计算应用,从器件表征、模型、仿真和设计、应用等多个层面,分析并总结了低温芯片技术领域的发展历程、理论基础和技术挑战,并给出针对性的解决方案和建议,有助于推动我国在低温芯片技术领域的持续发展。

  出版信息程然,李博,王宗巍,张结印,单伟伟,张建军,蔡一茂,韩根全. 面向高性能计算的低温芯片技术: 发展和挑战. 中国科学:信息科学,2024年第1期,doi:10.1360/SSI-2023-0347

  点击下方阅读原文按钮,免费下载。

  相关阅读

  SCIS集成电路、光电子和量子学科文章合辑

  后摩尔时代新器件重大研究计划专题简介bat365

  SCIS 新型二维材料与器件应用专题(2023)

  北大叶乐、黄如等 | SRAM 存算一体芯片研究:发展与挑战

  电子科大康凯等 | 硅基毫米波集成电路设计发展现状与挑战

  澳大路延、浙大屈万园 | 高效率高集成度电源管理芯片的发展与关键挑战

  张建军 李海欧 郭国平 | 半导体量子计算芯片

  西电朱樟明、刘术彬 | 高性能模数转换器技术挑战与发展趋势bat365官网登录入口

  南航刘伟强等|高能效高安全新兴计算芯片:现状、挑战与展望

韩根全等 | 面向高性能计算的低温芯片技术:发展和挑战

  北航赵巍胜等 | 存算一体芯片发展现状、趋势与挑战

  杭州电子科大樊凌雁等|高性能芯片物理实现的关键因素

  国家自然科学基金委在2023年组织了“集成电路未来发展与关键问题”——第347 期双清论坛。本次论坛密切结合国家重大战略需求和学科发展前沿,组织集成电路领域的青年专家学者,激发思想碰撞,厘清我国集成电路领域存在的关键问题与挑战,探讨未来的发展方向和路线,为我国集成电路的发展和创新做出贡献,为未来信息技术的发展提供基础科学支撑。论坛研讨成果将集中发表在《中国科学:信息科学》2024年第1期上。

标签: 高性能   面向   芯片   发展   挑战  
返回列表
分享:

Copyright © 2012-2023 Bat365(中国)官方网站 版权所有
粤ICP备16017609号

粤公网安备44030402003674号

网站地图 | XML地图

微信关注 微信关注
微博 微博
0755-83218588 电话号码
TOP